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产品型号
BX-Y1225B -
厂商性质
生产厂家 -
更新时间
2024-05-15 -
浏览次数
1795
产品描述
500KG自动极片平面探头电阻测试仪采用平面探头,对被测样品施加的压力来分析极片整体电阻,自动加压,压力可设定;PC软件界面操作,多种测量模式下实现压强与电阻,电阻率,电导率关系图谱;提供数据和报表生成管理.自动实时样品厚度数据及环境温湿度采集.相关文章
产品型号
BX-Y1225B厂商性质
生产厂家更新时间
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1795产品描述
500KG自动极片平面探头电阻测试仪采用平面探头,对被测样品施加的压力来分析极片整体电阻,自动加压,压力可设定;PC软件界面操作,多种测量模式下实现压强与电阻,电阻率,电导率关系图谱;提供数据和报表生成管理.自动实时样品厚度数据及环境温湿度采集.产品型号
BX-Y1225C厂商性质
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1233产品描述
1000KG自动极片平面探头电阻测试仪采用平面探头,对被测样品施加的压力来分析极片整体电阻,自动加压,压力可设定;PC软件界面操作,多种测量模式下实现压强与电阻,电阻率,电导率关系图谱;提供数据和报表生成管理.自动实时样品厚度数据及环境温湿度采集.产品型号
BX-Y1227厂商性质
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2024-05-15浏览次数
1339产品描述
全自动四探针电阻测量测试仪晶圆、非晶硅/微晶硅和导电膜电阻率测量;选择性发射极扩散片;表面钝化片;交叉指样PN结扩散片;新型电极设计,如电镀铜电阻测量等;半导体材料分析,铁电材料,纳米材料,太阳能电池,LCD,OLED,触摸屏等.产品型号
BX-Y1227A厂商性质
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2024-05-15浏览次数
1577产品描述
全自动四探针电阻测试仪,全自动化运行测量系统,PC软件采集和数据处理;参照A.S.T.M 标准方法测试半导体材料电阻率和方块电阻;可设定探针压力值、测试点数、多种测量模式选择,可显示:方阻、电阻率、显示2D,3D扫描/数值图、温湿度值、提供标准校准电阻件;报表输出数据统计分析产品型号
BX-Y1228厂商性质
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2024-05-15浏览次数
1703产品描述
半自动触屏四探针测试仪方法,采用步进系统自动控制探头与样品接触,减少人为因素对测试结果的影响;参照A.S.T.M 标准;测量方块电阻、电阻率、电导率数据、PC软件采集和数据处理实现自动点测模式或手动点测模式,同一位置的重复测试或多点的面电阻测量,报表输出数据统计分析;提供标准校准电阻件.